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CPK分析案例点评 - 分布过宽

2020/4/23 14:17:12 标签:       SPC案例       浏览:696

如果制程很稳定的则将形成一种固定形状称为分布,分布有下列三种不同的表征特点即:位置,分布,形状。如下图所示:

image.png


以下是某个参数的CPK分析结果:

image.png


特点是:分布过宽,也即比较离散,在数据特征上看就是标准偏差值,即STDEV较大,所以直接导致的结果就是整体CPK会较低,在这个案例中,整体CPK值为:0.719;

组内CPK为0.696。


我们来查看其控制图,每组样本数为5,从图中可以看出来,工序是比较稳定的,虽然工序能力比较低。

image.png


原始数据如下:

5.3795.6515.8315.2425.690

5.5985.1275.2465.7435.230

5.7975.6305.4225.4755.002

5.4505.2305.2815.1405.829

5.4235.2785.4455.1935.406

5.3925.2475.8175.5405.197

5.3675.4305.3675.7085.665

5.8925.4225.5315.1605.344

5.5565.2795.4345.4725.825

5.4575.5065.4165.1985.547

5.6095.0825.2935.1275.493

5.9325.5215.6225.9525.461

5.0945.9885.6585.6105.378

5.4165.3845.6905.4125.543

5.4675.6495.6545.0025.446

5.7015.5915.4865.4515.498

5.4965.5855.8035.6935.437

5.9415.6685.7575.2995.587

5.6575.1035.2965.8345.692

5.1835.5825.3315.7035.652


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